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SN74BCT8240ADW

SN74BCT8240ADW

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
型号
SN74BCT8240ADW
制造商/品牌
系列
74BCT
零件状态
Active
包装
Tube
工作温度
0°C ~ 70°C
安装类型
Surface Mount
封装/箱体
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供应商器件封装
24-SOIC
电源电压
4.5 V ~ 5.5 V
位数
8
逻辑类型
Scan Test Device with Inverting Buffers
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有货 42890 PCS
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